最新国际颈动脉支架研究结果公布：颈动脉支架术后新发脑梗死是颈动脉内膜剥脱术的3倍多，脑保护装置并不能有效预防缺血性脑梗死的发生。
　　国际颈动脉支架研究小组发表于2010年4月的<<柳叶刀-神经学杂志>>（Leo H Bonati, Lisa M Jongen, Sven Haller, et al. New ischaemic brain lesions on MRI after stenting or endarterectomy for symptomatic carotid stenosis: a substudy of the International Carotid Stenting Study (ICSS). Lancet Neurol 2010; 9: 353C62）的文章结果显示：症状性颈动脉狭窄行支架成型术后其新发脑梗死的发生率远远高于颈动脉内膜剥脱术；对于颈动脉支架成型术的患者，应用脑保护装置后，其术后新发脑梗死的发生率更高。
　　这是一项历时7年的多中心的前瞻性对照研究，时间自2001年5月至2008年10月，有50个中心参加，共1713例患者被随机分为支架组(n=855)和内膜剥脱组(n=858)。其中7个中心参加了术前术后磁共振弥散加强评估新发脑梗死灶的研究，在这7个中心中，5个中心行颈动脉支架术时必须用脑保护装置，2个中心不用脑保护装置。本组共379例，按照1：1的比例随机分成支架组(n=189)和内膜剥脱组(n=190)，支架组中124例符合研究要求，剥脱组中107例符合研究要求。治疗前1-7天、治疗后1-3天以及治疗后27-33天行弥散增强磁共振(MRI-DWI)检查颅内新发脑梗死灶。结果发现：支架组50％的患者(62/124)术后有至少一个新发脑梗死病变，剥脱组17％ (18/107) 的患者术后有至少一个新发脑梗死灶；应用脑保护装置行颈动脉支架成型术的中心病例中，73％ (37/51)术后有至少一个新发脑梗死灶，而剥脱组仅17％ (8/46) 术后有至少一个新发脑梗死灶；不用脑保护装置行颈动脉支架成型术的中心病例中，34％ (25/73) 术后有至少一个新发脑梗死灶，而剥脱组仅16％ (10/61) 术后有至少一个新发脑梗死灶。
　　这项期待已久的国际多中心前瞻性对照研究清楚地告诉我们：支架组术后新发脑梗死灶是剥脱组的3倍多，而脑保护装置在支架成型术中并不能有效预防缺血性脑梗死的发生。